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冠亚—恒温制冷加热控温循环设备

简要描述:冠亚—恒温制冷加热控温循环设备当您发现漏冷媒部分浸于水中,请立即停止低温设备运行,速将水箱内水排除,尽快通知公司派员维修,以免压缩机将水吸入系统造成更严重的损坏。制冷系统四大部件除了压缩机,剩下Z为重要的就是蒸发器和冷凝器,蒸发器和冷凝器分别起到吸热和放热的作用,充足而适宜的换热量可以充分发挥压缩机的效率。

  • 产品型号:SUNDI -6A25
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-12-10
  • 访  问  量:410
详情介绍
品牌LNEYA/无锡冠亚产地类别国产
应用领域化工,石油,能源


无锡冠亚恒温制冷技术有限公司致力于制冷加热控温系统、

超低温冷冻机、

新能源汽车部件测试系统、

VOCs冷凝回收装置、

加热循环系统、

防爆电气设备、

试验设备、

工业超低温冷冻室的研发、生产和销售。




冠亚—恒温制冷加热控温循环设备

冠亚—恒温制冷加热控温循环设备

一、半导体高低温测试设备背景

半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。


  在元器件行业中,对各种半导体、芯片的要求比较高,特别需要测试在不同环境下元器件的性能状况以及在封装组装生产下不同的温度测试以及其他性能测试,以免在元器件这类的电子产品在进入生产之后实际投放市场面对各种不同寻常的环境导致电子元器件不可用。

  二、半导体高低温测试设备的作用

  半导体高低温测试设备在元器件、集成电路、模块、PCB、装配等应用上进行高低温循环测试、高低温温度冲击测试,失效分析等可靠性测试。除了半导体高低温测试设备还可称为热流仪、冷热气流冲击机、冷热循环冲击装置、高低温气流循环系统等。

半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。

半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。


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