销售咨询热线：
13912479193
半导体高低温老化测试箱作为模拟芯片在苛刻环境下工作状态的控温设备之一，通过准确控制温度等环境参数，可加速芯片老化过程，筛选早期失效产品。为确保测试结果的准确性与设备运行稳定性，需严格遵循相关使用规范。
一、环境与设备准备注意事项
1、安装环境要求
设备需安装在常温环境中，且周围无粉尘、腐蚀性气体及强烈振动源。安装位置需预留散热空间，避免阳光直射或靠近热源，以防环境温度波动影响箱内控温精度。同时，地面需平整且承重能力符合设备要求，防止设备倾斜导致内部部件损坏。
2、供电与管路检查
供电系统需符合设备标注要求，且需单独布线并配备过载保护装置。水冷型设备需确认冷却水管路连接紧固，流量符合机型标准，并在管路中加装过滤器，避免杂质堵塞换热器。
3、设备状态核查
开机前需目视检查设备外观，确认外壳无破损、密封条完好无脱落。检查控制面板显示是否正常，无警告代码残留，传感器接线牢固，避免接触不佳导致测温误差。
二、操作流程注意事项
1、样品放置规范
待测试芯片需均匀分布在测试架上，避免堆叠或集中放置，确保气流循环顺畅。负载总量不得超过设备额定负载，每层负载需均衡分配。若测试多批次样品，需使用相同规格的载具，避免因载具差异导致温度分布不均。样品与箱内传感器的保留距离需，防止局部温度干扰测量结果。
2、参数设置要点
根据测试需求设定温度范围、升降温速率及测试时长。设定前需确认导热介质类型与温度范围匹配。若进行多阶段测试，需在每个阶段过渡时预留稳定时间。
3、运行中监控要求
设备运行期间需定时记录一次实际温度，确保与设定值偏差在合理范围。设备运行声音，若出现异常运行声音需立即暂停测试。
三、维护保养注意事项
1、日常清洁维护
每日测试结束后，需清理内箱残留杂质，关闭电源后用干布擦拭箱内及样品架。定期检查空气过滤器，过滤器破损需及时更换。检查密封条是否老化，若出现裂纹或弹性下降，需更换同规格密封条，防止箱内温度泄漏。
2、关键部件保养
每季度校准温度传感器，使用标准温度计比对，确保误差在合理范围内。对于制冷系统，检查制冷剂压力，若低于标准值需排查泄漏并补充制冷剂。水冷型设备每年需清洗冷凝器，去除水垢后用清水冲洗干净。
四、安全防护注意事项
为确保操作安全，设备运行期间严禁开启箱门。如需紧急取放样品，首先关闭制冷/加热系统，待箱内温度降至安全范围并切断电源后，方可使用专用把手开启箱门。进行低温测试后，需等待箱内温度回升至冰点以上再开门，以防样品表面结露。当设备出现异常时，应立即采取应急措施：发生超温提示需立即停止加热系统，检查温度设定及传感器状态；若压缩机过载保护启动，需充分冷却后再进行复位操作，如频繁触发则需检查供电系统及散热条件。
通过严格遵循上述注意事项，可保障半导体高低温老化测试箱的稳定运行，确保测试数据的准确性，同时延长设备使用周期，为半导体芯片的可靠性验证提供支持。
