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冷热一体循环机的温控原理是什么

 更新时间:2025-10-17 点击量:37

在半导体行业中,温度控制是影响半导体器件生产、测试及性能稳定性的关键环节,冷热一体循环机凭借可同时实现制冷与加热的核心能力,为半导体工艺提供准确、稳定的温控支持,确保半导体工艺在不同阶段均能处于理想温度环境,保障器件质量与生产效率。

一、冷热一体循环机的基础温控系统构成

冷热一体循环机的温控其系统主要由循环回路、制冷模块、加热模块及控制单元四部分组成,各组件协同工作实现温度调控。循环回路作为传递的载体通道,内部填充适配宽温域的导热介质,通过循环泵驱动介质持续流动,将制冷或加热模块产生的传递至半导体工艺设备或器件。

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制冷模块通过压缩机、冷凝器、蒸发器等组件构成的制冷回路实现热量吸收,压缩机将制冷剂压缩为高温高压气体,经冷凝器冷却液化后,通过节流装置降压变为低温低压的汽液混合物,进入蒸发器后吸收导热介质的热量并汽化,随后重新被压缩机吸入完成循环,从而降低导热介质温度。加热模块则通过预设的加热元件直接向导热介质释放热量,加热元件的功率输出由控制单元根据温度需求动态调节,避免介质温度骤升或波动。控制单元通过温度传感器实时采集导热介质温度、半导体工艺设备温度等关键数据,对比预设温度值后,自动调节制冷模块功率、加热模块输出及循环泵流量,形成闭环温控,确保温度稳定在目标区间。

二、适配半导体行业的核心温控技术

半导体工艺温度需求跨度大,涵盖深低温测试与高温反应。冷热一体循环机结合复叠制冷与加热技术:通过多级制冷剂梯度换热突破低温控制;采用耐高温元件与绝热设计保障高温稳定性。为满足高精度温控要求,系统通过多传感器实时采集数据,并运用前馈PID、无模型算法动态调节制冷、加热功率及介质流量。在温度循环测试中,可预测趋势,避免超调,将波动控制在较窄范围内。

半导体生产及测试环境复杂,易存在电磁干扰、振动等因素,可能影响温控系统稳定性,进而导致半导体工艺异常。冷热一体循环机通过优化系统设计减少电磁干扰与振动影响。循环回路采用全密闭结构,避免导热介质与空气接触,同时减少外界杂质进入回路引发的堵塞风险;循环泵选用磁力驱动类型,降低因密封泄漏导致的介质流失或压力波动,确保介质流量稳定,避免流量变化引发的温度不均匀问题。

三、适配半导体工艺的温控细节优化

半导体工艺需选用导热油或专用冷却液,确保在宽温域内保持稳定的导热性、低粘度及化学惰性,避免与设备材质反应或污染器件。接口需根据设备规格定制,采用耐腐蚀密封材料,防止介质泄漏。循环机通过压力传感器与调节阀维持回路压力稳定,压力异常时自动泄压或补压。设置多重安全防护:超温时立即停止加热并启动紧急制冷;配备过载、漏电等电气保护,确保半导体工艺安全运行。

在半导体行业向高集成度、高精度发展的背景下,冷热一体循环机的温控原理还将持续优化,进一步提升温控的智能化水平,为半导体行业的高质量发展提供更可靠的温控支撑。